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公司基本資料信息
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斯派克是德國(guó)一家大型分析儀器集團(tuán)。旗下匯集了光譜儀，直讀光譜儀，光譜分析儀，ICP等離子光譜儀，手持式光譜儀，X射線熒光光譜儀等眾多產(chǎn)品。
傳統(tǒng)的原子發(fā)射光譜儀器是采用衍射光柵，將不同波長(zhǎng)的光色散并成像在各個(gè)出射狹縫上，光電倍增管（PMT）則安裝于出射狹縫后面。為了使光譜儀能裝上盡可能多的檢測(cè)器，儀器的分光系統(tǒng)必須將譜線盡量分開，也就是說(shuō)單色器的焦距要足夠長(zhǎng)，相當(dāng)初的達(dá)3.2m。即使采用高刻線光柵，也需0.5m至1.0m長(zhǎng)的焦距，才有滿意的分辨率和裝上足夠多的檢測(cè)器。而且，所有這些光學(xué)器件均需精確定位，誤差不得超過(guò)幾個(gè)微米；并且要求整個(gè)系統(tǒng)有很高的機(jī)械穩(wěn)定性和熱穩(wěn)定性。由于振動(dòng)和溫濕度變化等環(huán)境因素導(dǎo)致光學(xué)元件的微小變形，將使光路偏離定位，造成測(cè)量結(jié)果波動(dòng)。為減少這類影響，通常將光學(xué)系統(tǒng)放置在一塊長(zhǎng)度至少為0.5m以上的剛性合金基座上，整個(gè)單色系統(tǒng)必須恒溫恒濕。這就是傳統(tǒng)光譜儀龐大而笨重，使用條件要求高的原因。而且，由于傳統(tǒng)的光譜儀是使用多個(gè)獨(dú)立的PMT和電路測(cè)定被分析元素，分析一個(gè)元素至少要預(yù)先設(shè)置一個(gè)通道。
新型分光系統(tǒng)和固體檢測(cè)器的出現(xiàn)改變了這一局面。
① 二維光譜的產(chǎn)生。當(dāng)僅僅使用光柵進(jìn)行分光時(shí)，產(chǎn)生的是一維光譜，在焦平面上形成線狀光譜；中階梯光柵與棱鏡組合的色散系統(tǒng)，可產(chǎn)生二維光譜，即棱鏡產(chǎn)生的一維線狀光譜又被中階梯光柵分光一次，在焦平面上形成二維的點(diǎn)狀光譜。
② 固體檢測(cè)器。目前已被采用的固體檢測(cè)器主要有：
CCD（Charge-Coupled Detector），電荷耦合檢測(cè)器。 二維檢測(cè)器，每個(gè)CCD檢測(cè)器包含2500個(gè)像素，將22個(gè)CCD檢測(cè)器環(huán)形排列于羅蘭園上，可同時(shí)分析120-800nm波長(zhǎng)范圍的譜線。應(yīng)用于直讀光譜儀，ICP等離子光譜儀等
CID（Charge-Injection Detector），電荷注入式檢測(cè)器，二維陣列，28×28mm的芯片共有512×512（262,144）個(gè)檢測(cè)單元，覆蓋167-1050nm波長(zhǎng)范圍；
SCD（Subsection Charge-Coupled Detector）分段式電荷耦合檢測(cè)器，面陣檢測(cè)器，面積：13×19mm，有6000個(gè)感光點(diǎn)，有5000條譜線可供選擇；
CCD、CID等固體檢測(cè)器，作為光電元件具有暗電流小、靈敏度高、信噪比較高的特點(diǎn)，具有很高的量子效率，接近理想器件的理論極限值。而且是超小型的、大規(guī)模集成的元件，可以制成線陣式和面陣式的檢測(cè)器，能同時(shí)記錄成千上萬(wàn)條譜線，并大大縮短了分光系統(tǒng)的焦距，使直讀光譜儀的多元素同時(shí)測(cè)定功能大為提高，而儀器體積又可大為縮小，焦距可縮短到0.4m以下，正在成為PMT器件的換代產(chǎn)品。
差異：
光電倍增管，CCD，CID檢測(cè)器的差異
目前較成熟的主要是電荷注入器件Charge-Injection Detector（CID）、電荷耦合器件Charge-Coupled Detector （CCD）。
在這兩種裝置中，由光子產(chǎn)生的電荷被收集并儲(chǔ)存在金屬-氧化物-半導(dǎo)體（MOS）電容器中，從而可以準(zhǔn)確地進(jìn)行象素尋址而滯后極微。這兩種裝置具有隨機(jī)或準(zhǔn)隨機(jī)象素尋址功能的二維檢測(cè)器。可以將一個(gè)CCD看作是許多個(gè)光電檢測(cè)模擬移位寄存器。在光子產(chǎn)生的電荷被貯存起來(lái)之后，它們近水平方向被一行一行地通過(guò)一個(gè)高速移位寄存器記錄到一個(gè)前置放大器上。最后得到的信號(hào)被貯存在計(jì)算機(jī)里。
CCD器件的整個(gè)工作過(guò)程是一種電荷耦合過(guò)程，因此這類器件叫電荷耦合器件。對(duì)于CCD器件，當(dāng)一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器的象素被某一強(qiáng)光譜線飽和時(shí)，便會(huì)產(chǎn)生溢流現(xiàn)象。即光子引發(fā)的電荷充滿該象素，并流入相鄰的象素，損壞該過(guò)飽和象素及其相鄰象素的分析正確性，并且需要較長(zhǎng)時(shí)間才能便溢流的電荷消失。為了解決溢流問(wèn)題，應(yīng)用于原子光譜分析的CCD器件，在設(shè)計(jì)過(guò)程中必須進(jìn)行改進(jìn)，例如：進(jìn)行分段構(gòu)成分段式電荷耦合器件（SCD），或在象表上加裝溢流門，并結(jié)合自動(dòng)積分技術(shù)等。
CID是一種電荷注入器件（Charge-Injected Device），其基本結(jié)構(gòu)與CCD相似，也是一種MOS結(jié)構(gòu)，當(dāng)柵極上加上電壓時(shí)，表面形成少數(shù)載流子（電子）的勢(shì)阱，入射光子在勢(shì)阱鄰近被吸收時(shí)，產(chǎn)生的電子被收集在勢(shì)阱里，其積分過(guò)程與CCD一樣。
CID與CCD的主要區(qū)別在于讀出過(guò)程，在CCD中，信號(hào)電荷必須經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)移，才能讀出，信號(hào)一經(jīng)讀取即刻消失。而在CID中，信號(hào)電荷不用轉(zhuǎn)移，是直接注入體內(nèi)形成電流來(lái)讀出的。即每當(dāng)積分結(jié)束時(shí)，去掉柵極上的電壓，存貯在勢(shì)阱中的電荷少數(shù)載流子（電子）被注入到體內(nèi)，從而在外電路中引起信號(hào)電流，這種讀出方式稱為非破壞性讀取（Non-Destructive Read Out）,簡(jiǎn)稱：NDRO．CID的NDRO特性使它具有優(yōu)化指定波長(zhǎng)處的信噪比（S/N）的功能。
同時(shí)CID可尋址到任意一個(gè)或一組象素，因此可獲得如“相板”一樣的所有元素譜線信息。
電荷耦合器件Charge-Coupled Detector （CCD）
電荷注入器件Charge-Injection Detector（CID）
在這兩種裝置中，由光子產(chǎn)生的電荷被收集并儲(chǔ)存在金屬-氧化物-半導(dǎo)體（MOS）電容器中，從而可以準(zhǔn)確地進(jìn)行象素尋址而滯后極微。這兩種裝置具有隨機(jī)或準(zhǔn)隨機(jī)象素尋址功能的二維檢測(cè)器。可以將一個(gè)CCD看作是許多個(gè)光電檢測(cè)模擬移位寄存器。在光子產(chǎn)生的電荷被貯存起來(lái)之后，它們近水平方向被一行一行地通過(guò)一個(gè)高速移位寄存器記錄到一個(gè)前置放大器上。最后得到的信號(hào)被貯存在計(jì)算機(jī)里。
CCD器件的整個(gè)工作過(guò)程是一種電荷耦合過(guò)程，因此這類器件叫電荷耦合器件。對(duì)于CCD器件，當(dāng)一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器的象素被某一強(qiáng)光譜線飽和時(shí)，便會(huì)產(chǎn)生溢流現(xiàn)象。即光子引發(fā)的電荷充滿該象素，并流入相鄰的象素，損壞該過(guò)飽和象素及其相鄰象素的分析正確性，并且需要較長(zhǎng)時(shí)間才能便溢流的電荷消失。為了解決溢流問(wèn)題，應(yīng)用于原子光譜分析的CCD器件，在設(shè)計(jì)過(guò)程中必須進(jìn)行改進(jìn)，例如：進(jìn)行分段構(gòu)成分段式電荷耦合器件（SCD），或在象表上加裝溢流門，并結(jié)合自動(dòng)積分技術(shù)等。
CID是一種電荷注入器件（Charge-Injected Device），其基本結(jié)構(gòu)與CCD相似，也是一種MOS結(jié)構(gòu)，當(dāng)柵極上加上電壓時(shí)，表面形成少數(shù)載流子（電子）的勢(shì)阱，入射光子在勢(shì)阱鄰近被吸收時(shí)，產(chǎn)生的電子被收集在勢(shì)阱里，其積分過(guò)程與CCD一樣。
CID與CCD的主要區(qū)別在于讀出過(guò)程，在CCD中，信號(hào)電荷必須經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)移，才能讀出，信號(hào)一經(jīng)讀取即刻消失。而在CID中，信號(hào)電荷不用轉(zhuǎn)移，是直接注入體內(nèi)形成電流來(lái)讀出的。即每當(dāng)積分結(jié)束時(shí)，去掉柵極上的電壓，存貯在勢(shì)阱中的電荷少數(shù)載流子（電子）被注入到體內(nèi)，從而在外電路中引起信號(hào)電流，這種讀出方式稱為非破壞性讀取（Non-Destructive Read Out）,簡(jiǎn)稱：NDRO．CID的NDRO特性使它具有優(yōu)化指定波長(zhǎng)處的信噪比（S/N）的功能。
同時(shí)CID可尋址到任意一個(gè)或一組象素，因此可獲得如“相板”一樣的所有元素譜線信息。
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2.專人帶看：由專業(yè)工程師陪同檢查、試驗(yàn)儀器
3.簽署合同：看好設(shè)備，簽署三方合同(買方、賣方、儀大師)，支付定金
4.支付全款，將儀器拉走
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平臺(tái)提供安裝調(diào)試培訓(xùn)及至少半年售后保障(具體根據(jù)儀器情況而定)
30天重大問(wèn)題或故意翻新儀器包退業(yè)務(wù)
