日立X-Strata920全自動鍍層膜厚儀，測量準，鍍層測厚

   日立分析儀器XRF鍍層膜厚儀系列在電子和金屬表面處理行業已有超過40年鍍層分析的成功經驗。X-Strata920可確保鍍層符合規格要求，并將鍍層過量或過少鍍層廢料造成的浪費減至最少。隨著X-Strata功能的擴展，用戶可以通過該儀器進行更多工作。

   這一款新型X-Strata膜厚儀意味著可選擇高分辨率硅漂移探測器（SDD）或正比計數器定制儀器，以優化其性能。此外，它現在擁有四個腔室和基座配置，可處理各種形狀和尺寸的樣品，包括汽車行業中的復雜幾何形狀。

   對于復雜的鍍層結構，SDD可以提供優于正比計數器的優勢，因為它更易分析具有類似XRF特征的元素，例如鎳和銅。這擴大了可以用于分析的元素范圍，包括磷 — 對于化學鍍鎳分析非常關鍵，并且可以更精確地測量較薄鍍層，例如符合IPC-4552A的納米范圍的金。

   日立分析儀器產品業務發展經理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析儀器產品系列的其他XRF儀器因其未來前景、可靠性和易用性而聞名。SDD的加入以及多種配置選擇能提高我們客戶的分析能力和靈活性，以測量大量零件的復雜鍍層。我們保留了高度直觀的Smartlink軟件，因此任何操作員（無論經驗水平如何）都能夠快速學會使用儀器并獲得準確可靠的結果。我們的鍍層產品，包括高級FT150微焦斑鍍層測厚儀、手持式XRF光譜儀以及可進行快速便攜式分析的CMI系列，40多年來在鍍層測量領域一直深受信賴，我們很高興能夠提供這些改進成果。”

深圳市譜賽斯科技有限公司成立于2014年，公司坐落于深圳工業重沙井，公司是從事精密儀器研發、生產、制造和進口儀器代理銷售及技術支持服務為一體的科技企業，公司長期以來和日本日立保持著友好合作伙伴關系，我們一直是日立分析儀器正式授權的銷售、服務獨家代理。
       譜賽斯集團是由高素質的設計研發、生產制造、售后服務的精英及業務骨干和工程技術人才組成的團隊，80%以上人員從事儀器儀表行業超過十年。公司本著“不斷創新、服務至上，以客戶利益為導向”的經營理念，敬業、守信、專業、高效的企業精神近年來為全國各地的連接器、PCB、LED、SMD、MLCC、電鍍行業、半導體、端子、緊固件汽車、五金等制造廠商及高校、科研機構、質檢機構等廣大客戶提供優質、快捷的測量方案和技術支持，并獲得業界無數好評。

1. 測量能力

• 鍍層結構：最多 4 層鍍層 + 1 層基材，共 5 層同時測定
• 元素范圍：Ti（22）–U（92），最多 25 種元素共存校正
• 厚度下限：≈ 0.03 µm（30 nm，Au/Ni 典型值）
• 測量時間：≈ 10 s 出結果，滿足產線節拍
• 標準符合：ISO 3497、ASTM B568、IPC-4552A/4556 等

   

2. 硬件配置

• X 射線管：50 kV/1 mA，W 靶微聚焦，空冷，Be 窗
• 探測器：標配正比計數器（PPC），可選高分辨率 SDD（Al–U 全元素）
• 準直器：最多 6 孔自動交換，圓孔 Ø0.1–0.5 mm，矩形最小 0.013 × 0.254 mm，可測微小焊盤或引線
• 濾光片：3 位程控二次濾光片，有效消除 Cu/Ni 等鄰近元素譜線重疊
• 樣品觀察：30× 光學放大 + 激光自動對焦，Z 軸行程 43 mm，可實時拍照記錄測點