日立臺式掃描電鏡TM4000III

 一、產品介紹

簡單來說，日立掃描電鏡是一種利用高能電子束來掃描樣品表面，從而獲得極高分辨率微觀形貌信息的精密分析儀器。 它被譽為科學家和工程師觀察微觀世界的“眼睛”，其核心功能遠超普通光學顯微鏡。
二、產品特點

1、簡單、快速

為滿足客戶的“想要不進行樣品前處理，直接啟動設備，快速且簡單獲取目標樣品數據”需求，TM4000系列進行了全面改進。可觀察最大直徑為80mm，厚度為50mm的樣品。設備內置光學相機（選配），可輕松尋找目標樣品。從裝樣到獲取圖像僅需3分鐘左右。優化了原來的形狀觀察、元素分析(選配項)到報告制作的工作流程。

2、性能優越，可靈活觀察與分析

   TM4000系列可觀察兩種圖像，反映樣品組分襯度的背散射電子像，反映樣品表面形貌的二次電子像。原來只能在高真空環境下觀察二次電子像，而TM4000Plus實現了低真空環境下觀察二次電子像。

三、應用案例
某跨國SMT貼裝客戶報告，其在業內采購的所有ENIG工藝PCB的PTH孔，在回流焊接后均出現測試孔孔環腐蝕發黑的現象，導致探針測試失效并引發全面停產，損失嚴重。該缺陷不僅削弱了探針的接觸可靠性，還會因PTH孔裂紋腐蝕銅層，削弱PCB的耐蝕性，并對產品可焊性構成顯著失效隱患。

掃描電子顯微鏡（SEM）作為關鍵的大型電子顯微分析設備，在失效分析中極具價值。現代SEM性能卓越，能將任何微觀結構或表面特征放大數十萬倍進行觀測與分析。

針對PCB及焊點失效分析，SEM主要用于剖析失效機理，包括：焊盤表面形貌觀測、焊點金相組織檢查、金屬間化合物厚度測量、鍍層可焊性評估以及錫須生長分析等。

相較于光學顯微鏡，SEM具有超大的圖像景深，是分析金相組織、顯微斷口及錫須等三維形貌樣品不可或缺的手段。